| 集成电路性能测量及电路实验装置 | |
| 龚德俊; 朱素兰; 李思忍; 徐永平; 于新生; 秦枫 | |
| 2006-07-12 | |
| 专利权人 | 中国科学院海洋研究所 |
| 公开日期 | 2011-07-15 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 摘要 | 本发明涉及集成电路性能测量、试验技术,尤其是一种集成电路性能测量及电路实验装置。包括：基板,其上设有多个固定孔,上表面均设至少2个固定导槽；至少1块用于接插集成块和电子元件的母板,其上设有印刷线路用即导体；至少2个用于固定母板的固定块,插装在所述固定导槽里、并同时将母板安装在基板上、于固定导槽之间；至少1个固定条,通过固定孔安装在基板上,用于固定整体结构。在基板上灵活方便地组合母板,使用本发明能安全、方便、快速地用集成块和电子元件搭建测量和实验电路,以对各种型号和形状的(尤其贴片式)集成电路进行各种性能的测量和试验。 |
| 申请日期 | 2002-10-11 |
| 专利号 | ZL02133160.X |
| 语种 | 中文 |
| 专利状态 | 公开 |
| 申请号 | 02133160.X |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.qdio.ac.cn/handle/337002/6702 |
| 专题 | 海洋环境工程技术研究发展中心 海洋环境腐蚀与生物污损重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 龚德俊,朱素兰,李思忍,等. 集成电路性能测量及电路实验装置. ZL02133160.X[P]. 2006-07-12. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 集成电路性能测量及电路实验装置.pdf（410KB） | 限制开放 | -- | 浏览 | |||
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